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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時(shí)間:2025-04-21 瀏覽量:
電子元器件二次篩選是通過非破壞性試驗(yàn)與環(huán)境應(yīng)力測試,剔除早期失效或潛在缺陷的元器件,確保批次產(chǎn)品的可靠性。其核心在于:
1. 全批次篩選:對整批元器件進(jìn)行100%檢測,覆蓋電阻、電容、電感、集成電路、繼電器等元件與器件;
2. 非破壞性:采用X射線探傷、氦質(zhì)譜檢漏等技術(shù),不改變元器件固有特性;
3. 定制化等級:根據(jù)應(yīng)用場景(如軍工、航空航天)調(diào)整篩選等級,滿足極端環(huán)境需求。
作為專業(yè)第三方元器件二次篩選機(jī)構(gòu),我司依托CNAS、DILAC等資質(zhì),可提供一站式篩選服務(wù),涵蓋檢測、失效分析與報(bào)告出具,助力企業(yè)規(guī)避供應(yīng)鏈風(fēng)險(xiǎn)。
1. 降低早期失效風(fēng)險(xiǎn):據(jù)統(tǒng)計(jì),未經(jīng)二次篩選的元器件在復(fù)雜工況下早期失效概率高達(dá)32%,篩選后可降至5%以下;
2. 應(yīng)對高可靠性需求:軍工、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域要求元器件壽命超10年,通過老煉試驗(yàn)(如300小時(shí)+85℃)可驗(yàn)證長期穩(wěn)定性;
3. 供應(yīng)鏈合規(guī)保障:防范進(jìn)口元器件虛標(biāo)、翻新件混入,需結(jié)合顆粒碰撞噪聲檢測(PIND)等專項(xiàng)測試。
根據(jù)GJB7243-2011等標(biāo)準(zhǔn),檢測項(xiàng)目分為四大類:
1. 檢查篩選
-顯微鏡檢查:識(shí)別外觀損傷、焊接缺陷;
-X射線非破壞檢查:透視內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常(如芯片裂紋、鍵合缺陷)。
2. 密封性篩選
-氦質(zhì)譜檢漏:檢測微米級漏孔;
-濕度試驗(yàn):驗(yàn)證封裝防潮性能。
3. 環(huán)境應(yīng)力篩選
-溫度沖擊(-65℃~150℃)、振動(dòng)測試:模擬極端環(huán)境下的性能穩(wěn)定性;
-三綜合試驗(yàn):疊加振動(dòng)、溫度與通電測試,加速暴露潛在缺陷。
4. 壽命篩選
-功率老化試驗(yàn):施加120%額定負(fù)荷,篩選出耐久性不足的元器件。
1. 國內(nèi)軍標(biāo)
- GJB7243-2011:規(guī)定篩選分級(I級最高,III級基礎(chǔ))及實(shí)施流程;
- GJB548B-2005:微電子器件測試方法,適用于集成電路篩選。
2. 國際標(biāo)準(zhǔn)
- MIL-STD-883G:半導(dǎo)體器件環(huán)境適應(yīng)性測試規(guī)范;
- MIL-STD-750D:分立器件可靠性驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)。
3. 行業(yè)指南
- QJ10003-2008:進(jìn)口元器件篩選技術(shù)指導(dǎo)。
1. 需求溝通:提供產(chǎn)品資料(型號(hào)、應(yīng)用場景),獲取定制化方案報(bào)價(jià);
2. 送樣檢測:寄送樣品至實(shí)驗(yàn)室,同步簽署保密協(xié)議;
3. 項(xiàng)目啟動(dòng):支付費(fèi)用后,按標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行檢測;
4. 報(bào)告出具:通過審核后,發(fā)放權(quán)威第三方報(bào)告。
元器件二次篩選報(bào)告是電子產(chǎn)品質(zhì)量管控的核心環(huán)節(jié),選擇具備軍標(biāo)資質(zhì)、設(shè)備完善的第三方元器件二次篩選機(jī)構(gòu),可顯著提升產(chǎn)品市場競爭力。我司具備完整檢測資質(zhì)與軍工級實(shí)驗(yàn)室,為企業(yè)提供全流程服務(wù),助力通過GJB、MIL-STD等嚴(yán)苛檢測。
立即咨詢:獲取定制化篩選方案與報(bào)價(jià),詳詢專業(yè)工程師團(tuán)隊(duì)!
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